如何用地質(zhì)羅盤測傾角

校正。校正時可旋動羅盤的刻度螺旋，使羅盤底盤南北刻度線與水平刻度盤0到180度連線間夾角等于磁偏角。經(jīng)校正后測量時的讀數(shù)就為真方位角。目的物方位的時放松制動螺絲，使對物覘板指向測物，使目的物，對物覘板小孔，蓋玻璃上的細(xì)絲，對目覘板小孔等連在一直線上，同時使底盤水準(zhǔn)器水泡居中，待磁針靜止時指北針?biāo)付葦?shù)即為所測目的物之方位角。巖層產(chǎn)狀要素的測量。巖層走向測量時，將羅盤長邊與層面緊貼，然后轉(zhuǎn)動羅盤，使底盤水準(zhǔn)器的水泡居中，讀出指針?biāo)缚潭燃礊閹r層之走向。巖層傾向測量時，將羅盤北端或接物覘板指向傾斜方向，羅盤南端緊靠著層面并轉(zhuǎn)動羅盤，使底盤水準(zhǔn)器水泡居中，讀指北針?biāo)缚潭燃礊閹r層的傾向。巖層傾角測量時將羅盤直立，并以長邊靠著巖層的真傾斜線，沿著層面左右移動羅盤，并用中指搬動羅盤底部之活動扳手，使測斜水準(zhǔn)器水泡居中，讀出懸錐中尖所指最大讀數(shù)，即為巖層之真傾角。